明场像和暗场像都是单束成像，成像时用一个小的物镜光阑挡住其他束，只让一个透射束或衍射束通过。高分辨像是多束干涉成像，成像时用物镜光阑同时套住中心透射斑和周围部分衍射斑，使透射斑和衍射斑共同干涉成像。

高分辨像包括晶格条纹像，一维结构像，二维晶格像，二维结构像，特殊的像，非晶的高分辨像。

高分辨像拍摄要点：

1.样品制备 粉末样品的颗粒小于10nm为宜，薄膜样品的厚度低于10nm为好。获得良好的高分辨电子显微像，样品要清洁、无污染、无氧化。非晶的污染物和氧化物对电子的散射比晶态物质强几倍到几十倍，漫散射电子会成为像的背底，严重地损害高分辨像的质量。

薄区无严重翘曲。翘曲使成像条件改变，因而不可能得到面积较大、质量好的高分辨像。

不含有人为的信息特征。最终减薄时，要消除切割或研磨时留下的机械应变层和热应变层；夹持试样时，必须小心，不要引入缺陷和变形等。

2.周围环境 为了减少外界磁场和震动的干扰，晚间工作要优于白天。

3.仪器稳定时间 为避免电压波动，加高压后多稳定一段时间再工作。一般情况下，仪器在加高压后0.5～2小时可达最佳稳定状态。

4.仪器对中调整 使仪器的物镜处于标准电流的运转状态。样品装入后，在低倍下用Z轴调整按钮聚焦。在4万倍下，利用大小斑点变化对仪器进行合轴调整。在拍摄倍率下进行电压中心调整，电流中心调整。如果偏差大，可先在低倍下调整，再升至拍摄倍率下调整。

5.观察和拍摄 首先寻找薄区，倾转样品台，达到所需的晶体方向，使薄区的某晶带轴与入射电子束平行。得到取向合适的电子衍射花样，利用适当大小的物镜光阑选取透射束和衍射束成像。

6.消像散 在拍摄倍率下细心消除聚光镜和物镜的像散。物镜消像散可用CCD相机，再作傅立叶变换。借助动态FFT，把非晶散射环调至最圆。

7.样品漂移 样品漂移对图象质量影响很大。冷阱加液氮后，样品台和冷阱间一般需0.5小时才能达到热平衡。样品视场移动和样品倾斜后，像漂移一般可在2～3分钟停止。

8.选择合适的放大倍数 拍摄倍率不宜太高，在高倍下观察和聚焦，在尽可能低的、又是必要的倍率下拍摄。因为低倍率下包含的视场宽，信息量大，而且像强度高，暴光时间可以缩短。

9.确定最佳离焦量和拍照 根据菲涅尔条纹来判断是否正焦。菲涅尔条纹过焦时是黑的，欠焦时是亮的，正焦时衬度最低，几乎看不到。此时，非晶的麻点衬度也最低，在无像散时，看起来几乎一片白。在不同欠焦量下多拍几张。